검색결과 : 2건
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Ni-Al-O diffusion barrier layer for high-kappa metal-oxide-semiconductor capacitor Wu DQ, Jia R, Yao JC, Zhao HS, Chang AM Thin Solid Films, 519(10), 3358, 2011 |
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Er 2 O 3 첨가가 BaTiO 3 계 내환원성 X7R 재질의 유전특성에 미치는 효과 박재성, 황진현, 한영호 Korean Journal of Materials Research, 11(1), 44, 2001 |