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Design and syntheses of novel calixarene-based PAG bound molecular resists for EUV lithography 김현정, 하태환, 김영규 한국공업화학회 2012년 가을 학술대회 |
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The Effect of Macromolecular Architecture on the Performance of Photoresists for Advanced Semiconductor Manufacture George G. Barclay 한국고분자학회 2011년 봄 학술대회 |
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Polymeric Materials for Extreme UV Lithography 김재현, 이재우, 오승근, 이정열, 김정식 한국고분자학회 2011년 봄 학술대회 |
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Basics and Trend of Semiconductor Lithography Hye-Keun Oh 한국고분자학회 2011년 봄 학술대회 |
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EUV photomask의 ozonated deionized water (DIO3) 세정 후Ru capping layer의 표면 변화 연구 서동완, 배진성, 정준의, 임상우 한국화학공학회 2011년 봄 학술대회 |
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Preparation of Acid-Cleavable Branched Polymers: Control in Size of Primary Chains, Degree of Branching, and Composition Distribution 손해성, 김동균, 이애리, 이재우, 김정식, 김재현, 이종찬 한국공업화학회 2011년 봄 학술대회 |
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EUV Mask의 내구성 향상을 위한 cleaning chemistry별 표면 특성 연구 윤미현, 오지숙, 임상우 한국화학공학회 2010년 가을 학술대회 |
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Ultra high etch selectivity and variation of line edge roughness during etching of silicon oxynitride with patterned extreme ultra-violet resist resist in dual-frequency capacitively coupled plasmas 권봉수, 이정훈, 이내응 한국재료학회 2010년 가을 학술대회 |
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Coherent Diffraction Imaging for Non-Crystalline Nano-Structures Jaehyun Park, Changyong Song, Yoshiki Kohmura, Tetsuya Ishikawa 한국고분자학회 2009년 가을 학술대회 |
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ArF resist와 EUV resist의 식각특성 비교 권봉수, 이학주, 김선일, 이내응, 이성권 한국재료학회 2007년 가을 학술대회 |