화학공학소재연구정보센터
번호 제목
2 RF 마그네트론 스퍼터로 증착시킨 ITO 박막의 열화 특성에 관한 연구|Degradation characteristics of ITO thin film deposited by RF magnetron sputter
김용남, 박정현, 신현규, 송준광, 이희수
한국재료학회 2003년 가을 학술대회
1 실리콘 초클랄스키 공정에서 점 결함 밀도에 대한 공정 변수의 영향 연구|Study of the effects of operating parameters on the densities of point defects in silicon single crystal in Czochralski process
김종선, 이태용|Jong-Seon Kim, Tae-Yong Lee
한국화학공학회 1998년 봄 학술대회