| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
| 2 |
X선 조사에 의해 (Ba,Sr)FBr:Eu 형광 물질에 생성되는 결함 특성 신중기, 이종용, 권준현 한국재료학회 2008년 가을 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 방법을 이용한 Gd2O2S:Tb 희토류 증감지 나노 크기의 결함 측정 장수민, 이종용, 권준현, 김흥회 한국재료학회 2006년 가을 학술대회 |
| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
| 2 |
X선 조사에 의해 (Ba,Sr)FBr:Eu 형광 물질에 생성되는 결함 특성 신중기, 이종용, 권준현 한국재료학회 2008년 가을 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 방법을 이용한 Gd2O2S:Tb 희토류 증감지 나노 크기의 결함 측정 장수민, 이종용, 권준현, 김흥회 한국재료학회 2006년 가을 학술대회 |