| 학회 | 한국재료학회 |
| 학술대회 | 2016년 가을 (11/16 ~ 11/18, 경주 현대호텔) |
| 권호 | 22권 2호 |
| 발표분야 | C. 에너지 재료 분과 |
| 제목 | 태양전지의 Potential Induced Degradation 취약성 분석 |
| 초록 | PID(Potential Induced Degradation)는 2010년 최초 보고 이후로 옥외 태양광 발전시 특정 태양광 모듈에 초기 열화가 발생하게 되고, 발전량이 감소된다. 일반적인 모듈의 PID의 시험은 60도, 85% 습도에서 프레임과 태양전지에 -1000V 인가 후 96시간 후 초기 대비 5% 출력 감소 이내인 경우 시험을 통과하게 된다. 우리는 모듈 단위가 아닌 태양전지 단위로 Na 고장 주입 후 12시간 이내의 PID 테스트를 진행하였고, 그 결과를 L-IV, D-IV, EL로 분석을 진행하였다. 그 결과 PID의 고장 원인인 Na에 의한 열화는 태양전지마다 다른 경향을 보이고, 취약성 평가가 가능하였다. |
| 저자 | 오원욱, 천성일 |
| 소속 | 전자부품(연) |
| 키워드 | <P>태양전지; Potential Induced Degradation; 취약성; 열화</P> |
