| 학회 | 한국공업화학회 |
| 학술대회 | 2011년 봄 (05/11 ~ 05/13, 제주국제컨벤션센터) |
| 권호 | 15권 1호 |
| 발표분야 | 교육프로그램 |
| 제목 | AFM의 원리와 응용 |
| 초록 | 원자현미경은 전자현미경과 마찬가지로 광학현미경의 공간분해능을 넘는 시료 표면의 정보를 측정한다는 점에서 비슷하지만, 탐침을 직접 시료 표면에 나노미터 정도로 근접하여 시료를 측정하므로 시료의 표면 형상에 대한 정보 뿐만 아니라 그 전기/기계/화학적 정보와 같은 부가적인 정보를 함께 얻을 수 있는 장점을 가지고 있다. 이러한 원자현미경의 특성은 시료 표면이 상변이나 화학반응을 거치면서 생기는 변화를 다각도로 분석할 수 있는 방법을 제공한다. 이와 같은 분석의 예를 각 물성에 따른 측정 원리와 함께 제시하고자 한다. |
| 저자 | 김아람 |
| 소속 | ㈜파크시스템스 |
| 키워드 | 원자현미경; EC-AFM; SKPM; Conductive AFM; 표면분석 |
