- 표면에 대한 분석장비들에 대하여 가르쳐 주십시요..
- jms (2001/06/11)추천0 조회수1703
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관리자 (2001-06-13 09:52:24)+덧글답변
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표면을 분석할 수 있는 표면 장비는 아주 많은 것들이 있습니다.
그중에서도 자주 사용되는 장비 몇개의 예를 들어보이겠습니다.
가장 많이 사용하는 장비로는 SEM(Scanning Electron Microscopy) 있습니다. 표면의 morphology와 막의 두께등을 수천배에서 수십만배까지 확대해서 볼 수 있습니다.
요즘 많이 사용하는 장비로는 SPM(Scanning Probe Microscope)이 있습니다. SPM에는 AFM, STM, LFM, MEM등의 많은 방법들이 있습니다. 이것들에 대한 설명은 첨부파일에 올려놓을 테니 참고하십시요. SPM을 사용하는 이유는 표면의 수평뿐이 아니라 수직방향의 분해능이 아주 좋기 때문이며 이장비를 이용하여 우리는 분자하나하나의 모양을 볼 수 있게 되었습니다.
그밖에도 많은 장비들이 있습니다.
ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis , XPS라고도 함 - 원소 분석뿐만이 아니라 어떠한 화학결합을 하고 있는지 분석가능), Auger Electron을 이용하여 원소분석과 깊이에 따른 원소의 분포를 알 수 있는 AES/SAM, 일차이온으로 표면능 때리는 동안 방출하는 양이온 혹은 음이온을 분석하에 화학적 성분과 표면구조를 얻을 수 있는 TOF-SIMS(Surface Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectometry), 아주 수평 분해능이 좋아서 결정들을 lattice의 구조를 파악할 수 있는 TEM(trnasmission electron microscopy) 등이 있습니다.
위에 방법 이외에도 아주 많이 장비들이 있습니다.
장비를 선택함에 있어서 중요한 것은 분석하고자 하는 것이 어떤 것인지 확실하게 인식하고 그에 적합한 장비를 선택하는 것입니다.
위의 장비들은 모두 고가의 장비(최소 1억이상)입니다.
분석가능한 곳을 알고 싶으면 연락주십시요.
조금이나마 도움이 되었으면 좋겠습니다.
그중에서도 자주 사용되는 장비 몇개의 예를 들어보이겠습니다.
가장 많이 사용하는 장비로는 SEM(Scanning Electron Microscopy) 있습니다. 표면의 morphology와 막의 두께등을 수천배에서 수십만배까지 확대해서 볼 수 있습니다.
요즘 많이 사용하는 장비로는 SPM(Scanning Probe Microscope)이 있습니다. SPM에는 AFM, STM, LFM, MEM등의 많은 방법들이 있습니다. 이것들에 대한 설명은 첨부파일에 올려놓을 테니 참고하십시요. SPM을 사용하는 이유는 표면의 수평뿐이 아니라 수직방향의 분해능이 아주 좋기 때문이며 이장비를 이용하여 우리는 분자하나하나의 모양을 볼 수 있게 되었습니다.
그밖에도 많은 장비들이 있습니다.
ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis , XPS라고도 함 - 원소 분석뿐만이 아니라 어떠한 화학결합을 하고 있는지 분석가능), Auger Electron을 이용하여 원소분석과 깊이에 따른 원소의 분포를 알 수 있는 AES/SAM, 일차이온으로 표면능 때리는 동안 방출하는 양이온 혹은 음이온을 분석하에 화학적 성분과 표면구조를 얻을 수 있는 TOF-SIMS(Surface Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectometry), 아주 수평 분해능이 좋아서 결정들을 lattice의 구조를 파악할 수 있는 TEM(trnasmission electron microscopy) 등이 있습니다.
위에 방법 이외에도 아주 많이 장비들이 있습니다.
장비를 선택함에 있어서 중요한 것은 분석하고자 하는 것이 어떤 것인지 확실하게 인식하고 그에 적합한 장비를 선택하는 것입니다.
위의 장비들은 모두 고가의 장비(최소 1억이상)입니다.
분석가능한 곳을 알고 싶으면 연락주십시요.
조금이나마 도움이 되었으면 좋겠습니다.