| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 실리콘에서의 구조 특성 이권희, 이종용 한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
| 2 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 측정법을 이용한 영상 형광체의 결함 연구 이종용, 김재홍, 전권수 한국재료학회 2006년 봄 학술대회 |
| 번호 | 제목 |
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| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 실리콘에서의 구조 특성 이권희, 이종용 한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
| 2 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 측정법을 이용한 영상 형광체의 결함 연구 이종용, 김재홍, 전권수 한국재료학회 2006년 봄 학술대회 |